Park Systems a conclu un accord avec Seagate Technology pour développer et fournir la nouvelle génération de microscopes à force atomique

Park Systems Corp., un fournisseur mondial de systèmes de mesures nanométriques pour la recherche et l'industrie, a annoncé aujourd'hui la signature d'un contrat d'exploitation et de développement pour développer et fournir la nouvelle génération de microscopes à force atomique (AFM) avec Seagate Technology (NYSE:STX), le leader mondial dans la conception, la fabrication et la commercialisation de disques durs.
« Alors que le volume de mémoire du disque dur augmente, les règles de tracé des curseurs de disque dur diminuent rapidement » a déclaré Sang-il Park, P.D.G. de Park Systems. « Les AFM doivent fournir des mesures PTR fiables et renouvelables de moins d'un dixième de nanomètre. »
M. Sang-il Park a expliqué que les AFM traditionnels utilisaient des tubes piézoélectriques pour un balayage X-Y-Z. Le mouvement X-Y s'appuie sur une flexion du tube, qui provoque des erreurs dans la position Z et affiche les courbures de fond. « Il est donc fondamentalement impossible pour l'ancienne génération d'AFM de produire le haut niveau de métrologie prisé par les fabricants de mémoire, » a-t-il déclaré.
Pour surmonter ces limitations, Park Systems a développé l'AFM Cross-Talk Elimination (XE), qui présente le découplage des scanneurs X-Y et Z. Les AFM série XE de Sang-il Park réduisent la courbature de fond à un nanomètre sur plus de 100 micromètres à émission latérale. Il n'y a pas de cintrage intrinsèque, même sur l'échantillon le plus plat. Ceci garantit des images précises et permet même d'observer les richesses fonctionnelles superficielles les plus subtiles, puisqu'aucune modification des données brutes ne doit être effectuée. Park Systems exposera ses nouveaux systèmes XE et NSOM sur le stand 101 lors de l'exposition de l'automne 2007 de la Materials Research Society (MRS), du 27 au 29 novembre, au Hynes Convention Center, Boston, Massachusetts.
Les AMF série XE de Park Systems effectuent des mesures sur un mode non-contact authentique, en préservant la définition de la pointe et en garantissant que la métrologie nanométrique se fasse sans altérer l'échantillon. Park Systems (anciennement PSIA) a commencé à travailler avec Seagate en 2004 et le contrat d'exploitation et de développement lui a été attribué en 2006. Park Systems fournit à Seagate la future génération d'AFM avec toutes les capacités d'automatisation.
Park Systems, un des premiers fournisseurs d'AFM, produit des AFM et des microscopes en champ proche pour des petites ou grandes tailles d'échantillon, des microscopes optiques en champ proche (NSOM), la spectrométrie Raman, et pour des applications industrielles, y compris la vérification de disques durs, les futurs curseurs, le traitement de l'image et le profilage latéral /surplomb, et les semi-conducteurs. www.parkAFM.com.
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